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德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀型號(hào)：QNIX4200P 分體涂層測(cè)厚儀: 基體：Fe磁性基體，測(cè)量范圍：0-3000微米，探頭：分體探頭
更新時(shí)間：2025-02-17
德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀
型號(hào)：QNIX4200P
分體涂層測(cè)厚儀: 基體：Fe磁性基體，測(cè)量范圍：0-3000微米，探頭：分體探頭
QNIX4200P涂層測(cè)厚儀分體設(shè)計(jì)，只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)，使用極其簡(jiǎn)單。QNix4200P為磁性測(cè)厚儀，可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡(jiǎn)單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶(hù)所喜愛(ài)。
QNIX4200P涂層測(cè)厚儀分體化設(shè)計(jì)，只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)，使用極其簡(jiǎn)單。
QNix4200P為磁性測(cè)厚儀，可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡(jiǎn)單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶(hù)所喜愛(ài)。
在傳統(tǒng)QNix4200基礎(chǔ)上，為了滿(mǎn)足客戶(hù)不同的需要，特推出QNix4200P（分體式）機(jī)，探頭和主機(jī)之間通過(guò)一根探頭線(xiàn)連接起來(lái)，可以滿(mǎn)足特定測(cè)量環(huán)境（比如狹小空間）的需要，測(cè)量更方便，使用更人性化，性?xún)r(jià)比更高
QNIX4200P涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：
分體化設(shè)計(jì)，滿(mǎn)足不同環(huán)境的測(cè)量
只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)
體積小巧，操作方便
精度高
價(jià)格便宜
德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
QNIX4200P涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù) | |
磁性基體(Fe模式) | QNix4200P有此功能 |
測(cè)量范圍 | Fe:0-3000um |
顯示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um 50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) 1000-3000um≤±3%讀數(shù) |
小接觸面 | 10×10mm |
小曲率半徑 | 凸面：3mm 凹面：25mm |
小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
溫度補(bǔ)償范圍 | 0-60℃ |
顯示 | LCD液晶(帶背光) |
探頭 | 紅寶石固定式 |
電源 | 2×1.5V干電池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |
QNix® 4200P SONDEN
Sonde | Messbereich | Substrat | Abweichung | ||
|---|---|---|---|---|---|
QNix® 4200 3 mm | 3000 µm | Fe | +/- (3% +- 2 µm) | ||
QNix® 4200 5 mm | 5000 µm | Fe | 0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm) | ||
Kleinste Messfläche | Kleinster Krümmungsradius | Kleinste Dicke des Substrats | |||
∅ 25 mm | Konvex: 5 mm | 200 µm | |||
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